BS EN 60749-8:2003现行
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Sealing
出版：British Standards Institution
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Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). It determines the leak rate of semiconductor devices.
© British Standards Institution 2013
DIN EN 60749-8 : 2003 - Identical
I.S. EN 60749-8:2003 - Identical
DIN EN 60749-8 : 2003 - Identical
UNE EN 60749-8 : 2004 - Identical
I.S. EN 60749-8:2003 - Identical
SN EN 60749-8 : 2003 - Identical
NBN EN 60749-8 : 2004 - Identical
IEC 60749-8 : 1.0 - Identical
EN 60749-8 : 2003 - Identical
NF EN 60749-8 : 2003 - Identical
UNE EN 60749-8:2004 - Identical
I.S. EN 60749-8:2003 - Identical
IEC 60749-8 Ed. 1.0 - Identical
NF EN 60749-8:2003 - Identical
NBN EN 60749-8:2004 - Identical
DIN EN 60749-8 (2003-12) - Identical
SN EN 60749-8:2003 - Identical
SS EN 60749-8 Ed. 1 (2003) - Identical
