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EN 60749-8 : 2003现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 8: SEALING

出版：European Committee for Standards - Electrical

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基本信息

标准编号： EN 60749-8 : 2003

标准类别：Standard

出版单位：European Committee for Standards - Electrical

标准页数：0

标准简介

Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). It determines the leak rate of semiconductor devices.

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