I.S. EN 60749-8:2003现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods Part 8: Sealing
出版：National Standards Authority of Ireland
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Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices.
BS EN 60749-8 : 2003 - Identical
DIN EN 60749-8 : 2003 - Identical
NF EN 60749-8 : 2003 - Identical
DIN EN 60749-8 : 2003 - Identical
BS EN 60749-8 : 2003 - Identical
UNE EN 60749-8 : 2004 - Identical
SN EN 60749-8 : 2003 - Identical
NBN EN 60749-8 : 2004 - Identical
IEC 60749-8 : 1.0 - Identical
EN 60749-8 : 2003 - Identical
SN EN 60749-8:2003 - Identical
BS EN 60749-8:2003 - Identical
DIN EN 60749-8 (2003-12) - Identical
NBN EN 60749-8:2004 - Identical
NF EN 60749-8:2003 - Identical
IEC 60749-8 Ed. 1.0 - Identical
SS EN 60749-8 Ed. 1 (2003) - Identical
UNE EN 60749-8:2004 - Identical
