SN EN 60749-32:2003现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 32: Flammability Of Plastic-encapsulated Devices (externally Induced)
出版：Swiss Standards
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Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). It determines whether the device ignites due to external heating.
DIN EN 60749-32 (2003-12) - Identical
BS EN 60749-32:2003 - Identical
EN 60749-32:2003 - Identical
UNE EN 60749-32:2004 - Identical
SS EN 60749-32 Ed. 1 (2003) - Identical
IEC 60749-32 Ed. 1.0 - Identical
I.S. EN 60749-32:2003 - Identical
NF EN 60749-32:2003 - Identical
NBN EN 60749-32:2004 - Identical
BS EN 60749-32:2003+A1:2010 - Identical
SS EN 60749-32:2003 - Identical
IEC 60749-32 : 1.1 - Identical
DIN EN 60749-32 : 2011 - Identical
I.S. EN 60749-32:2003 - Identical
UNE EN 60749-32 : 2004 - Identical
EN 60749-32 : 2003 AMD 1 2010 - Identical
NF EN 60749-32 : 2003 AMD 1 2011 - Identical
BS EN 60749-32 : 2003 - Identical
NBN EN 60749-32 : 2004 AMD 1 2010 - Identical
DIN EN 60749-32 : 2011 - Identical
BS EN 60749-32 : 2003 - Identical
I.S. EN 60749-32:2003 - Identical
