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I.S. EN 60749-32:2003现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods Part 32: Flammability Of Plastic-encapsulated Devices (externally Induced)

出版：National Standards Authority of Ireland

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基本信息

标准编号： I.S. EN 60749-32:2003

发布时间：2003/8/22 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：National Standards Authority of Ireland

标准页数：21

标准简介

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to external heating.

等同采用的国际标准

BS EN 60749-32 : 2003 - Identical

DIN EN 60749-32 : 2011 - Identical

SN EN 60749-32 : 2003 - Identical

NBN EN 60749-32 : 2004 AMD 1 2010 - Identical

BS EN 60749-32 : 2003 - Identical

NF EN 60749-32 : 2003 AMD 1 2011 - Identical

EN 60749-32 : 2003 AMD 1 2010 - Identical

UNE EN 60749-32 : 2004 - Identical

DIN EN 60749-32 : 2011 - Identical

IEC 60749-32 : 1.1 - Identical

IEC 60749-32 Ed. 1.0 - Identical

SS EN 60749-32 Ed. 1 (2003) - Identical

UNE EN 60749-32:2004 - Identical

EN 60749-32:2003 - Identical

SS EN 60749-32:2003 - Identical

BS EN 60749-32:2003+A1:2010 - Identical

NBN EN 60749-32:2004 - Identical

SN EN 60749-32:2003 - Identical

BS EN 60749-32:2003 - Identical

DIN EN 60749-32 (2003-12) - Identical

NF EN 60749-32:2003 - Identical

I.S. EN 60749-32:2003现行

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