
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 32: Flammability Of Plastic-Encapsulated Devices (Externally Induced)
出版:European Committee for Standards - Electrical

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2003 AMD 1 2010 [01/09/2010]2003 COR 2003 [01/07/2003]2003 [01/06/2003]
DS EN 60749-32:2004 - Identical
DIN EN 60749-32 (2003-12) - Identical
CEI EN 60749-32:2004 - Identical
BS EN 60749-32:2003+A1:2010 - Identical
OVE/ONORM EN 60749-32:2011 - Identical
SS EN 60749-32:2003 - Identical
DIN EN 60749-32 (2011-01) - Identical
CEI EN 60749-32 Ed. 1 (2004) - Identical
SN EN 60749-32:2003 - Identical
BS EN 60749-32:2003 - Identical
NBN EN 60749-32:2004 - Identical
NF EN 60749-32:2003 - Identical
I.S. EN 60749-32:2003 - Identical
IEC 60749-32 Ed. 1.0 - Identical
PN EN 60749-32:2005 - Identical
SS EN 60749-32 Ed. 1 (2003) - Identical
UNE EN 60749-32:2004 - Identical
NEN EN IEC 60749-32:2003 - Identical
OVE/ONORM EN 60749-32:2004 - Identical