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NEN EN IEC 60749:1999被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息

标准编号： NEN EN IEC 60749:1999

发布时间：1999/2/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Nederlands Normalisatie Instituut

标准页数：179

标准简介

99 AMD 2 2002 [01/02/2002]99 AMD 1 2001 [01/01/2001]1999 [01/02/1999]

标准备注

Supersedes NEN 10749. (09/2002)

替代本标准的新标准

NEN EN IEC 60749-4:2002

等同采用的国际标准

IEC 60749 Ed. 2.2 - Identical

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