NEN EN IEC 60749-6:2002被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 6: Storage At High Temperature
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
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基本信息
标准编号： NEN EN IEC 60749-6:2002
发布时间：2002/9/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Nederlands Normalisatie Instituut
标准页数：7
标准简介
Analysis the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied.
标准备注
Partially Supersedes NEN EN IEC 60749. (02/2003)
本标准替代的旧标准
替代本标准的新标准
