NEN EN IEC 60749-1:2003现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 1: General
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
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基本信息
标准编号： NEN EN IEC 60749-1:2003
发布时间：2003/8/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Nederlands Normalisatie Instituut
标准页数：15
标准简介
Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series.
标准备注
Partially supersedes NEN EN IEC 60749. (08/2003)
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
IEC 60749-1 Ed. 1.0 - Identical
