NEN EN IEC 60749-2:2002现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 2: Low Air Pressure
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
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基本信息
标准编号： NEN EN IEC 60749-2:2002
发布时间：2002/9/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Nederlands Normalisatie Instituut
标准页数：11
标准简介
Defines the testing of low air pressure on semiconductor devices.
标准备注
Partially supersedes NEN EN IEC 60749. (12/2002)
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
IEC 60749-2 Ed. 1.0 - Identical
