NEN EN IEC 60749-4:2002被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Highly Accelerated Stress Test (hast)
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
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基本信息
标准编号： NEN EN IEC 60749-4:2002
发布时间：2002/9/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Nederlands Normalisatie Instituut
标准页数：15
标准简介
Defines about a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.
标准备注
Partially supersedes NEN EN IEC 60749. (12/2002)
本标准替代的旧标准
替代本标准的新标准
