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NEN EN IEC 60749-32:2003现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 32: Flammability Of Plastic-encapsulated Devices (externally Induced)

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息

标准编号： NEN EN IEC 60749-32:2003

发布时间：2003/8/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Nederlands Normalisatie Instituut

标准页数：9

标准简介

Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). The test determines whether the device ignites due to external heating.

等同采用的国际标准

IEC 60749-32 Ed. 1.0 - Identical

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