EN 60749-4:2017现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (Hast) (Iec 60749-4:2017)
出版：European Committee for Standards - Electrical
专家解读视频
2017 [01/06/2017]2002 [01/08/2002]
I.S. EN 60749-4:2017 - Identical
DS EN 60749-4:2017 - Identical
NEN EN IEC 60749-4:2017 - Identical
PN EN 60749-4:2017 - Identical
CEI EN 60749-4 Ed. 2 (2017) - Identical
BS EN 60749-4:2017 - Identical
CEI EN 60749-4 Ed. 1 (2004) - Identical
BS EN 60749-4:2002 - Identical
DIN EN 60749-4 (2003-04) - Identical
NBN EN 60749-4:2003 - Identical
NF EN 60749-4:2002 - Identical
I.S. EN 60749-4:2002 - Identical
PN EN 60749-4:2004 - Identical
SS EN 60749-4 Ed. 1 (2003) - Identical
UNE EN 60749-4:2003 - Identical
NEN EN IEC 60749-4:2002 - Identical
OVE/ONORM EN 60749-4:2003 - Identical
DS EN 60749-4:2002 - Identical
