DS EN 60749-4:2002被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (Hast)
出版：Danish Standards
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基本信息
标准编号： DS EN 60749-4:2002
发布时间：2003/1/8 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Danish Standards
标准页数：20
标准简介
Specifies a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.
替代本标准的新标准
等同采用的国际标准
EN 60749-4:2017 - Identical
