PN EN 60749-4:2017现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (Hast)
出版：Polish Committee for Standardization
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基本信息
标准编号： PN EN 60749-4:2017
标准类别：Standard
出版单位：Polish Committee for Standardization
标准页数：20
标准简介
2017 [16/10/2017]2004 [23/08/2004]2003 [15/10/2003]
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
EN 60749-4:2017 - Identical
IEC 60749-4 : 2.0 - Identical
EN 60749-4 : 2017 - Identical
IEC 60749-4 : 2.0 - Identical
