BS EN 60749-4:2017现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (Hast) (Iec 60749-4:2017)
出版：British Standards Institution
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2017 [30/11/2017]2002 [10/09/2002]
Supersedes 00/203564 DC (09/2002) Supersedes BS EN 60749. (09/2005) Supersedes 16/30341341 DC. (12/2017)
I.S. EN 60749-4:2017 - Identical
EN 60749-4:2017 - Identical
NBN EN 60749-4:2003 - Identical
NF EN 60749-4:2002 - Identical
SS EN 60749-4 Ed. 1 (2003) - Identical
UNE EN 60749-4:2003 - Identical
UNE EN 60749-4 : 2003 - Identical
NBN EN 60749-4 : 2003 - Identical
I.S. EN 60749-4:2017 - Identical
IEC 60749-4 : 2.0 - Identical
EN 60749-4 : 2017 - Identical
DIN EN 60749-4 : 2016 - Identical
NF EN 60749-4 : 2002 - Identical
