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BS EN 60749-18:2003现行

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Ionizing radiation (total dose)

出版：British Standards Institution

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基本信息

标准编号： BS EN 60749-18:2003

发布时间：2003/3/13 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：British Standards Institution

标准页数：18

标准简介

Covers a test procedure for defining requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionizing radiation (total dose) effects from a cobalt-60 ([60]Co) gamma ray source.

标准备注

© British Standards Institution 2013

Amendment notes:
AMD 14531 published 01 July 2003
AMD 15225 published 07 July 2004
AMD 14531 and AMD 15225 are Corrigenda

本标准替代的旧标准

00/203285 DC : DRAFT AUG 2000

替代本标准的新标准

BS EN IEC 60749-18 : 2019

等同采用的国际标准

UNE EN 60749-18:2003 - Identical

IEC 60749-18 Ed. 1.0 - Identical

I.S. EN 60749-18:2003 - Identical

NF EN 60749-18:2003 - Identical

NBN EN 60749-18:2003 - Identical

I.S. EN 60749-18:2003 - Identical

NBN EN 60749-18 : 2003 - Identical