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I.S. EN 60749-18:2003现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods Part 18: Ionizing Radiation (total Dose)

出版：National Standards Authority of Ireland

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基本信息

标准编号： I.S. EN 60749-18:2003

发布时间：2003/3/14 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：National Standards Authority of Ireland

标准页数：75

标准简介

Provides a test procedure for defining requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionizing radiation (total dose) effects from a cobalt-60 gamma ray source.

替代本标准的新标准

I.S. EN IEC 60749-18:2019

等同采用的国际标准

EN 60749-18:2003 - Identical

UNE EN 60749-18:2003 - Identical

SS EN 60749-18 Ed. 1 (2003) - Identical

IEC 60749-18 Ed. 1.0 - Identical

NF EN 60749-18:2003 - Identical

NBN EN 60749-18:2003 - Identical

DIN EN 60749-18 (2003-09) - Identical

BS EN 60749-18:2003 - Identical

SN EN 60749-18:2003 - Identical

BS EN 60749-18 : 2003 - Identical

IEC 60749-18 : 1.0 - Identical

UNE EN 60749-18 : 2003 - Identical

NF EN 60749-18 : 2003 - Identical

DIN EN 60749-18 : 2003 - Identical

NBN EN 60749-18 : 2003 - Identical

EN 60749-18 : 2003 - Identical

SN EN 60749-18 : 2003 - Identical

DIN EN 60749-18 : 2003 - Identical

UNE EN 60749-18 : 2003 - Identical

BS EN 60749-18 : 2003 - Identical

I.S. EN 60749-18:2003现行

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