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SS EN 60749-18 Ed. 1 (2003)现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 18: Ionizing Radiation (total Dose)

出版：Standardiserings-Kommissionen I Sverige

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基本信息

标准编号： SS EN 60749-18 Ed. 1 (2003)

发布时间：2003/10/20 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Standardiserings-Kommissionen I Sverige

标准页数：0

标准简介

Covers a test procedure for defining requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionizing radiation (total dose) effects from a cobalt-60 ([60]Co) gamma ray source.

等同采用的国际标准

EN 60749-18:2003 - Identical

UNE EN 60749-18:2003 - Identical

IEC 60749-18 Ed. 1.0 - Identical

I.S. EN 60749-18:2003 - Identical

NF EN 60749-18:2003 - Identical

NBN EN 60749-18:2003 - Identical

DIN EN 60749-18 (2003-09) - Identical

SN EN 60749-18:2003 - Identical

BS EN 60749-18:2003 - Identical

SS EN 60749-18 Ed. 1 (2003)现行

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