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DIN EN 60749-18 : 2003被替代

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 18: IONIZING RADIATION (TOTAL DOSE)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

标准编号： DIN EN 60749-18 : 2003

发布时间：2003/1/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

标准页数：16

标准简介

Covers a test procedure for defining requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionizing radiation (total dose) effects from a cobalt-60 ([60]Co) gamma ray source.

替代本标准的新标准

DIN EN 60749-18 : 2018

等同采用的国际标准

NF EN 60749-18 : 2003 - Identical

NBN EN 60749-18 : 2003 - Identical

SN EN 60749-18 : 2003 - Identical

UNE EN 60749-18 : 2003 - Identical

I.S. EN 60749-18:2003 - Identical

BS EN 60749-18 : 2003 - Identical