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I.S. EN 60749-2:2002现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods Part 2: Low Air Pressure

出版：National Standards Authority of Ireland

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基本信息

标准编号： I.S. EN 60749-2:2002

发布时间：2002/11/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：National Standards Authority of Ireland

标准页数：28

标准简介

Deals with the testing of low air pressure on semiconductor devices.

等同采用的国际标准

UNE EN 60749-2:2003 - Identical

SS EN 60749-2 Ed. 1 (2003) - Identical

IEC 60749-2 Ed. 1.0 - Identical

NF EN 60749-2:2002 - Identical

NBN EN 60749-2:2003 - Identical

BS EN 60749-2:2002 - Identical

DIN EN 60749-2 (2003-04) - Identical

BS EN 60749-2 : 2002 - Identical

DIN EN 60749-2 : 2003 - Identical

NF EN 60749-2 : 2002 - Identical

UNE EN 60749-2 : 2003 - Identical

NBN EN 60749-2 : 2003 - Identical

EN 60749-2 : 2002 - Identical

IEC 60749-2 : 1.0 - Identical

BS EN 60749-2 : 2002 - Identical

DIN EN 60749-2 : 2003 - Identical