EN 60749-2 : 2002现行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 2: LOW AIR PRESSURE
出版：European Committee for Standards - Electrical
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基本信息
标准编号： EN 60749-2 : 2002
标准类别：Standard
出版单位：European Committee for Standards - Electrical
标准页数：0
标准简介
La présente partie de la CEI 60749 décrit l'essai de basse pression atmosphérique appliqué aux dispositifs à semiconducteurs. L'essai est essentiellement destiné à déterminer la capacité des éléments et des matériaux des composants à éviter les claquages provoqués par la rigidité diélectrique amoindrie de l'air et des autres matériaux isolants à des pressions réduites. Cet essai n'est applicable qu'aux dispositifs dont la tension de fonctionnement dépasse 1000 V.
