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UNE EN 60749-2:2003现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Low Air Pressure

出版：Asociacion Espanola de Normalizacion

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专家解读视频

基本信息

标准编号： UNE EN 60749-2:2003

发布时间：2003/5/30 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Asociacion Espanola de Normalizacion

标准页数：10

标准简介

2003 [30/05/2003]

标准备注

Supersedes UNE EN 60749. (10/2005)

本标准替代的旧标准

UNE EN 60749:2000

等同采用的国际标准

NF EN 60749-2:2002 - Identical

NBN EN 60749-2:2003 - Identical

DIN EN 60749-2 (2003-04) - Identical

BS EN 60749-2:2002 - Identical

SS EN 60749-2 Ed. 1 (2003) - Identical

IEC 60749-2 Ed. 1.0 - Identical

I.S. EN 60749-2:2002 - Identical