NBN EN 60749-19 : 2004 AMD 1 2010现行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 19: DIE SHEAR STRENGTH
出版：Belgian Standards
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基本信息
标准编号： NBN EN 60749-19 : 2004 AMD 1 2010
标准类别：Standard
出版单位：Belgian Standards
标准页数：0
等同采用的国际标准
DIN EN 60749-19 : 2011 - Identical
I.S. EN 60749-19:2003 - Identical
BS EN 60749-19 : 2003 - Identical
DIN EN 60749-19 : 2011 - Identical
