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I.S. EN 60749-17:2003现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods Part 17: Neutron Irradiation

出版：National Standards Authority of Ireland

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基本信息

标准编号： I.S. EN 60749-17:2003

发布时间：2003/6/20 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：National Standards Authority of Ireland

标准页数：25

标准简介

Defines the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. Applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices.

替代本标准的新标准

I.S. EN IEC 60749-17:2019

等同采用的国际标准

EN 60749-17:2003 - Identical

UNE EN 60749-17:2003 - Identical

SS EN 60749-17 Ed. 1 (2003) - Identical

IEC 60749-17 Ed. 1.0 - Identical

NF EN 60749-17:2003 - Identical

NBN EN 60749-17:2004 - Identical

DIN EN 60749-17 (2003-09) - Identical

BS EN 60749-17:2003 - Identical

SN EN 60749-17:2003 - Identical

BS EN 60749-17 : 2003 - Identical

NBN EN 60749-17 : 2004 - Identical

UNE EN 60749-17 : 2003 - Identical

SN EN 60749-17 : 2003 - Identical

IEC 60749-17 : 1.0 - Identical

UNE EN 60749-17 : 2003 - Identical

BS EN 60749-17 : 2003 - Identical

DIN EN 60749-17 : 2003 - Identical

NF EN 60749-17 : 2003 - Identical

EN 60749-17 : 2003 - Identical

DIN EN 60749-17 : 2003 - Identical

I.S. EN 60749-17:2003现行

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