UNE EN 60749-17:2003现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 17: Neutron Irradiation
出版：Asociacion Espanola de Normalizacion
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Performed to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. Applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices.
EN 60749-17:2003 - Identical
SS EN 60749-17 Ed. 1 (2003) - Identical
I.S. EN 60749-17:2003 - Identical
NF EN 60749-17:2003 - Identical
NBN EN 60749-17:2004 - Identical
DIN EN 60749-17 (2003-09) - Identical
BS EN 60749-17:2003 - Identical
SN EN 60749-17:2003 - Identical
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