BS EN 60749-9:2002被替代
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Permanence of marking
出版：British Standards Institution
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© British Standards Institution 2013
Replaces notes:
Partially replaces BS EN 60749:1999.
EN 60749-9:2002 - Identical
UNE EN 60749-9:2003 - Identical
DIN EN 60749-9 : 2016 - Identical
IEC 60749-9 ED 2 : 2017 - Identical
I.S. EN 60749-9:2017 - Identical
EN 60749-9:2017 - Identical
DIN EN 60749-9 (2003-04) - Identical
NBN EN 60749-9:2003 - Identical
NF EN 60749-9:2002 - Identical
I.S. EN 60749-9:2002 - Identical
IEC 60749-9 Ed. 1.0 - Identical
SS EN 60749-9 Ed. 1 (2003) - Identical
