当前位置： 首页 > 标准详情页

IEC 60749-9 ED 2 : 2017现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 9: PERMANENCE OF MARKING

出版：International Electrotechnical Committee

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

专家解读视频

基本信息

标准编号： IEC 60749-9 ED 2 : 2017

标准类别：Standard

出版单位：International Electrotechnical Committee

标准页数：0

标准简介

Aims to determine whether the marks on solid state semiconductor devices will remain legible when subjected to the application and removal of labels or the use of solvents and cleaning solutions commonly used during the removal of solder flux residue from the printed circuit board manufacturing process.

本标准替代的旧标准

IEC 60749-9 : 1.0

IEC 60749-9 : 1.0 : COR 1

IEC PAS 62175 : 1.0

等同采用的国际标准

CEI EN 60749-9 : 2004 - Identical

DS EN 60749-9 : 2017 - Identical

EN 60749-9 : 2017 - Identical

NEN EN IEC 60749-9 : 2017 - Identical

DIN EN 60749-9 : 2016 - Identical

BS EN 60749-9 : 2017 - Identical

CEI EN 60749-9 : 2004 - Identical