
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 10: Mechanical Shock (Iec 60749-10:2002)
出版:European Committee for Standards - Electrical

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2002 [01/08/2002]
NEN EN IEC 60749-10:2002 - Identical
UNE EN 60749-10:2003 - Identical
SS EN 60749-10 Ed. 1 (2003) - Identical
PN EN 60749-10:2004 - Identical
IEC 60749-10 Ed. 1.0 - Identical
I.S. EN 60749-10:2002 - Identical
DIN EN 60749-10 (2003-04) - Identical
BS EN 60749-10:2002 - Identical
CEI EN 60749-10 Ed. 1 (2004) - Identical
NF EN 60749-10:2002 - Identical
NBN EN 60749-10:2003 - Identical
Amd 14112 (Corr to BS EN 60749-10:2002) - Identical
OVE/ONORM EN 60749-10:2003 - Identical
DS EN 60749-10:2002 - Identical