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BS EN 60749-29:2003被替代

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Latch-up test

出版：British Standards Institution

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专家解读视频

基本信息

标准编号： BS EN 60749-29:2003

发布时间：2004/3/9 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：British Standards Institution

标准页数：24

标准备注

© British Standards Institution 2013

Amendment notes:
AMD 15226 published 29 June 2004
AMD 15226 is a Corrigendum

替代本标准的新标准

BS EN 60749-29:2011

等同采用的国际标准

UNE EN 60749-29:2004 - Identical

SS EN 60749-29 Ed. 1 (2004) - Identical

IEC 60749-29 Ed. 1.0 - Identical

I.S. EN 60749-29:2003 - Identical

NF EN 60749-29:2004 - Identical

NBN EN 60749-29:2005 - Identical

DIN EN 60749-29 (2004-07) - Identical

EN 60749-29:2011 - Identical