标准编号 | 标准名称 | 发布部门 | 发布日期 | 状态 | |
GB/T 6570-1986 | 微波二极管测试方法 | 国家标准局 | 1987-07-01 | 已作废 | |
SJ 1381-1978 | 实验二极管结构与工艺 | 中华人民共和国第四机.. | 1979-07-01 | 已废止 | |
SJ 1225-1977 | 2AP11~2AP17型锗检波二极管 | 中华人民共和国第四机.. | 1978-06-01 | 已废止 | |
SJ 1226-1977 | 2AP9~2AP10型锗检波二极管 | 中华人民共和国第四机.. | 1978-06-01 | 已废止 | |
SJ 1227-1977 | 2AP1~2AP8、2AP21和2AP27型锗检波二极管 | 中华人民共和国第四机.. | 1978-06-01 | 已废止 | |
SJ 1228-1977 | 2AP30~2AP31型锗宽带检波二极管 | 中华人民共和国第四机.. | 1978-06-01 | 已废止 | |
SJ 1229-1977 | 2AK10~20型锗开关二极管 | 中华人民共和国第四机.. | 1978-01-01 | 已废止 | |
SJ 1230-1977 | 锗检波二极管高频整流电流的测试方法 | 中华人民共和国第四机.. | 1978-06-01 | 已废止 | |
SJ 909-1974 | 2CW50~149型硅半导体稳压二极管 | 1974-10-01 | 已废止 | ||
SJ 910-1974 | 3DW50~202型硅半导体稳压二极管 | 中华人民共和国第四机.. | 1974-10-01 | 已废止 | |
SJ 911-1974 | 2DW230~236型硅平面温度补偿稳压二极管 | 中华人民共和国第四机.. | 1975-10-01 | 已废止 | |
SJ 966-1975 | 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法 | 中华人民共和国第四机.. | 1976-06-01 | 已废止 |