欢迎来到寰标网！客服QQ：772084082 加入会员

[个人会员] 登录/ 注册我的订单2 购物车我的收藏标准服务

当前位置： 首页 > 实验二极管结构与工艺

实验二极管结构与工艺已废止

Structure and technology of test diode

标准号：SJ 1381-1978

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

基本信息

标准号：SJ 1381-1978

发布时间：1979-07-01

实施时间：1979-07-01

首发日期：

出版单位：中国电子工业出版社查看详情>

起草人：

作废日期：2010-01-20

出版机构：中国电子工业出版社

标准分类：半导体二极管

发布部门：中华人民共和国第四机械工业部

标准简介

本标准规定了板耗不大于5W、嵌缝结构、旁热式阴极，平板型实验二极管的结构、工艺和实验方法。只要用于鉴定阴极材料及工艺对发射性能的寿命的影响。

替代情况

会员注册/登录后查看详情

引用标准

会员注册/登录后查看详情

本标准相关公告

会员注册/登录后查看详情

采标情况

会员注册/登录后查看详情

推荐检测机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐认证机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐培训机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~