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已选条件： 国内中标分类 L 电子元器件与信息技术半导体分立器件半导体分立器件综合

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标准编号	标准名称	发布部门	发布日期	状态
SJ 50033/157-2002	半导体分立器件 3DA506型硅微波脉冲功率晶体管详细规范	中华人民共和国信息产..	2003-03-01	现行
SJ 50033/158-2002	半导体分立器件 3DG44型硅超高频低噪声晶体管详细规范	中华人民共和国信息产..	2003-03-01	现行
SJ 50033/159-2002	半导体分立器件 3DG142型硅超高频低噪声晶体管详细规范	中华人民共和国信息产..	2003-03-01	现行
SJ 50033/160-2002	半导体分立器件 3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范	中华人民共和国信息产..	2003-03-01	现行
SJ 1400-1978	半导体器件参数符号		2002-07-01	已作废
SJ 1602-1980	硅双基极二极管测试方法总则		2002-05-01	已作废
SJ 1603-1980	硅双基极二极管基极间电阻的测试方法		2002-05-01	已作废
SJ 1604-1980	硅双基极二极管发射极与第一基极间反向电流的测试方法		2002-05-01	已作废
SJ 1605-1980	硅双基极二极管饱和压降的测试方法		2002-05-01	已作废
SJ 1606-1980	硅双基极管峰点电流的测试方法		2002-05-01	已作废
SJ 1607-1980	硅双基极二极管调制电流的测试方法		2002-05-01	已作废
SJ 1608-1980	硅双基极二极管各点电压和各点电流的测试方法		2002-05-01	已作废
SJ 1609-1980	硅双基极二极管分压比的测试方法		2002-05-01	已作废
GB/T 12560-1999	半导体器件分立器件分规范	国家质量技术监督局	2000-03-01	现行
GB/T 17573-1998	半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则	国家质量技术监督局	1999-06-01	现行
GB/T 15651-1995	半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件	国家技术监督局	1996-04-01	现行
GB/T 4937-1995	半导体器件机械和气候试验方法	国家技术监督局	1996-08-01	已作废
QJ 2567-1993	3DK50型NPN硅功率开关晶体管详细规范		2019-12-19	已作废
QJ 2192.1-1991	半导体光电器件筛选技术条件		2019-12-19	已作废
GB 12560-1990	半导体器件分立器件分规范 (可供认证用)		1991-10-01	已作废

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