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半导体器件机械和气候试验方法已作废

Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices

标准号：GB/T 4937-1995

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基本信息

标准号：GB/T 4937-1995

发布时间：1995-01-02

实施时间：1996-08-01

首发日期：1985-02-06

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：

作废日期：2007-02-01

出版机构：中国标准出版社

标准分类：半导体分立器件综合

ICS分类：半导体器件

起草单位：上海市电子仪表计量测试所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布部门：国家技术监督局

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件，可以要求补充的试验方法。

替代情况

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引用标准

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采标情况

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