DS EN 60749-4:2017现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (Hast)
出版：Danish Standards
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基本信息
标准编号： DS EN 60749-4:2017
标准类别：Standard
出版单位：Danish Standards
标准页数：15
标准简介
2017 [22/06/2017]2002 COR 1 2003 [12/02/2004]2002 [08/01/2003]
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
IEC 60749-4 : 2.0 - Identical
EN 60749-4 : 2017 - Identical
IEC 60749-4 : 2.0 - Identical
EN 60749-4:2017 - Identical
