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DIN EN 62373 (2007-01)现行

Bias-temperature Stability Test For Metal-oxide, Semiconductor, Field-effect Transistors (mosfet)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

标准编号： DIN EN 62373 (2007-01)

发布时间：2007/1/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

标准页数：0

标准简介

Defines a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

标准备注

Supersedes DIN IEC 62373. (01/2007)

本标准替代的旧标准

DIN IEC 62373 (2004-09)

等同采用的国际标准

NF EN 62373:2006 - Identical

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