BS EN 60749-5:2017现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test
出版：British Standards Institution
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2017 [31/07/2017]2003 [18/06/2003]
Supersedes 00/203277 DC (10/2004) Supersedes BS EN 60749. (09/2005) Supersedes 16/30348576 DC. (07/2017)
DIN EN 60749-5 : 2003 - Identical
I.S. EN 60749-5:2017 - Identical
IEC 60749-5 : 2.0 - Identical
DIN EN 60749-5 : 2003 - Identical
I.S. EN 60749-5:2017 - Identical
EN 60749-5 : 2017 - Identical
SN EN 60749-5 : 2003 - Identical
NBN EN 60749-5 : 2004 - Identical
UNE EN 60749-5 : 2003 - Identical
IEC 60749-5 : 2.0 - Identical
NF EN 60749-5 : 2003 - Identical
NF EN 60749-5:2003 - Identical
I.S. EN 60749-5:2017 - Identical
EN 60749-5:2017 - Identical
SN EN 60749-5:2003 - Identical
DIN EN 60749-5 (2003-09) - Identical
NBN EN 60749-5:2004 - Identical
SS EN 60749-5 Ed. 1 (2003) - Identical
UNE EN 60749-5:2003 - Identical
