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IEC 60749-5 : 2.0现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 5: STEADY-STATE TEMPERATURE HUMIDITY BIAS LIFE TEST

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息

标准编号： IEC 60749-5 : 2.0

标准类别：Test Method

出版单位：International Electrotechnical Committee

标准页数：0

标准简介

Gives a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.

本标准替代的旧标准

IEC 60749-5 : 1.0

IEC PAS 62161 : 1.0

等同采用的国际标准

DS EN 60749-5 : 2017 - Identical

NEN EN IEC 60749-5 : 2017 - Identical

CEI EN 60749-5 : 2005 - Identical

DIN EN 60749-5 : 2003 - Identical

BS EN 60749-5 : 2017 - Identical

PN EN 60749-5 : 2017 - Identical