
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test
出版:Belgian Standards

专家解读视频
2004 [01/04/2004]
Partially supersedes NBN EN 60749. (04/2004)
DIN EN 60749-5 : 2003 - Identical
BS EN 60749-5 : 2017 - Identical
I.S. EN 60749-5:2017 - Identical
DIN EN 60749-5 : 2003 - Identical
BS EN 60749-5:2017 - Identical
EN 60749-5:2017 - Identical
SN EN 60749-5:2003 - Identical
BS EN 60749-5:2003 - Identical
DIN EN 60749-5 (2003-09) - Identical
NF EN 60749-5:2003 - Identical
I.S. EN 60749-5:2003 - Identical
SS EN 60749-5 Ed. 1 (2003) - Identical
UNE EN 60749-5:2003 - Identical