I.S. EN 60749-13:2002被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods Part 13: Salt Atmosphere
出版：National Standards Authority of Ireland
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Explains a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion.
NBN EN 60749-13:2003 - Identical
NF EN 60749-13:2002 - Identical
IEC 60749-13 Ed. 1.0 - Identical
SS EN 60749-13 Ed. 1 (2003) - Identical
UNE EN 60749-13:2003 - Identical
EN 60749-13:2002 - Identical
DIN EN 60749-13 (2003-04) - Identical
BS EN 60749-13:2002 - Identical
BS EN 60749-13 : 2002 - Identical
NBN EN 60749-13 : 2003 - Identical
UNE EN 60749-13 : 2003 - Identical
NF EN 60749-13 : 2002 - Identical
DIN EN 60749-13 : 2003 - Identical
EN 60749-13 : 2002 - Identical
BS EN 60749-13 : 2002 - Identical
DIN EN 60749-13 : 2003 - Identical
