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标准编号 标准名称 发布部门 发布日期 状态
GB 7005-1986 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1000型TTL四2输入与非门(可供认证用) 1987-08-01 已作废
GB 7006-1986 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1002型TTL四2输入或或非门(可供认证用) 1987-08-01 已作废
GB 7007-1986 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1004型TTL六反相器(可供认证用) 1987-08-01 已作废
GB 7008-1986 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1008型TTL四2输入与门(可供认证用) 1987-08-01 已作废
GB 7009-1986 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1010型TTL三3输入与非门(可供认证用) 1987-08-01 已作废
GB 7010-1986 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1020型TTL双4输入与非门(可供认证用) 1987-08-01 已作废
GB 7011-1986 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1027型TTL三3输入或非门(可供认证用) 1987-08-01 已作废
GB 7012-1986 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1030型TTL8输入与非门(可供认证用) 1987-08-01 已作废
GB 7013-1986 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1040型TTL双4输入与非缓冲器(可供认证用) 1987-08-01 已作废
GB 7014-1986 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1054型TTL4路2-2-2-2输入与或非门(可供认证用) 1987-08-01 已作废
GB 7015-1986 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 1987-08-01 已作废
GB 3442-1986 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 1987-07-01 已作废
GB 6793-1986 半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理 1987-07-01 已作废
GB 6794-1986 半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理 1987-07-01 已作废
GB 6795-1986 半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理 1987-07-01 已作废
GB 6796-1986 半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理 1987-07-01 已作废
GB 6797-1986 半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 1987-07-01 已作废
GB 6798-1986 半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理 1987-07-01 已作废
GB 6799-1986 半导体集成接口电路显示驱动器测试方法的基本原理 1987-07-01 已作废
GB 7504-1987 半导体集成微型计算机电路系列和品种 2900系列的品种 国家标准局 1987-11-01 已作废
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