[GB 7005-1986] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1000型TTL四2输入与非门(可供认证用)[已作废]
[GB 7006-1986] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1002型TTL四2输入或或非门(可供认证用)[已作废]
[GB 7007-1986] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1004型TTL六反相器(可供认证用)[已作废]
[GB 7008-1986] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1008型TTL四2输入与门(可供认证用)[已作废]
[GB 7009-1986] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1010型TTL三3输入与非门(可供认证用)[已作废]
[GB 7010-1986] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1020型TTL双4输入与非门(可供认证用)[已作废]
[GB 7011-1986] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1027型TTL三3输入或非门(可供认证用)[已作废]
[GB 7012-1986] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1030型TTL8输入与非门(可供认证用)[已作废]
[GB 7013-1986] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1040型TTL双4输入与非缓冲器(可供认证用)[已作废]
[GB 7014-1986] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1054型TTL4路2-2-2-2输入与或非门(可供认证用)[已作废]
[GB 7015-1986] 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理[已作废]
[GB 3442-1986] 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理[已作废]
[GB 6793-1986] 半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理[已作废]
[GB 6794-1986] 半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理[已作废]
[GB 6795-1986] 半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理[已作废]
[GB 6796-1986] 半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理[已作废]
[GB 6797-1986] 半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理[已作废]
[GB 6798-1986] 半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理[已作废]
[GB 6799-1986] 半导体集成接口电路显示驱动器测试方法的基本原理[已作废]
[GB 7504-1987] 半导体集成微型计算机电路系列和品种 2900系列的品种[已作废]