| 标准编号 | 标准名称 | 发布部门 | 发布日期 | 状态 | |
| SJ 2215.3-1982 | 半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法 | 1983-07-01 | 已作废 | ||
| SJ 2215.4-1982 | 半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法 | 1983-07-01 | 已作废 | ||
| SJ 2215.5-1982 | 半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法 | 1983-07-01 | 已作废 | ||
| SJ 2215.6-1982 | 半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法 | 1983-07-01 | 已作废 | ||
| SJ 2215.7-1982 | 半导体光耦合器集电极－发射极反向击穿电压的测试方法 | 1983-07-01 | 已作废 | ||
| SJ 2215.8-1982 | 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法 | 1983-07-01 | 已作废 | ||
| SJ 2215.9-1982 | 半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法 | 1983-07-01 | 已作废 | ||
| SJ 2216-1982 | 硅光敏二极管 | 1983-07-01 | 已作废 | ||
| SJ 2217-1982 | 硅光敏三极管 | 1983-07-01 | 已作废 | ||
| SJ 2218-1982 | 半导体光敏二极管型光耦合器 | 1983-07-01 | 已废止 | ||
| SJ 2219-1982 | 半导体光敏三极管型光耦合器 | 1983-07-01 | 已废止 | ||
| SJ 2220-1982 | 半导体达林顿型光耦合器 | 1983-07-01 | 已废止 | ||
| SJ 2028-1982 | 直热式正温度系数热敏电阻器总技术条件 | 1982-09-01 | 废止 | ||
| SJ 2029-1982 | 可见光光敏电阻器总技术条件 | 1982-09-01 | 已废止 | ||
| SJ 2030-1982 | ＭＧ４１型密封硫化镉光敏电阻器 | 1982-09-01 | 已废止 | ||
| SJ 2031-1982 | ＭＧ２４型密封硫化镉光敏电阻器 | 1982-09-01 | 已废止 | ||
| SJ 1887-1981 | 热敏电阻器的主要参数系列 | 1982-07-01 | 已废止 | ||
| SJ 1886-1981 | 热敏电阻器的标志内容与标志方法 | 1982-07-01 | 已废止 | ||
| SJ 1553-1980 | 测温型负温度系数热敏电阻器总技术条件 | 1980-10-01 | 已作废 | ||
| SJ 1554-1980 | ＭＦ５１型珠状热敏电阻器 | 1980-10-01 | 已废止 |
