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CEI EN 62373 : 2007现行

BIAS-TEMPERATURE STABILITY TEST FOR METAL-OXIDE, SEMICONDUCTOR, FIELD-EFFECT TRANSISTORS (MOSFET)

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

标准编号： CEI EN 62373 : 2007

发布时间：2007/1/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Comitato Elettrotecnico Italiano

标准页数：20

标准简介

Describes a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

等同采用的国际标准

EN 62373 : 2006 - Identical

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