IEC 62373 : 1.0现行
BIAS-TEMPERATURE STABILITY TEST FOR METAL-OXIDE, SEMICONDUCTOR, FIELD-EFFECT TRANSISTORS (MOSFET)
出版：International Electrotechnical Committee
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Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
I.S. EN 62373:2006 - Identical
NEN EN IEC 62373 : 2006 - Identical
CEI EN 62373 : 2007 - Identical
BS EN 62373 : 2006 - Identical
DIN EN 62373 : 2007 - Identical
PN EN 62373 : 2006 - Identical
PN EN 62373 : 2006 - Identical
SN EN 62373 : 2006 - Identical
EN 62373 : 2006 - Identical
DIN EN 62373 : 2007 - Identical
I.S. EN 62373:2006 - Identical
NF EN 62373 : 2006 - Identical
NEN EN IEC 62373 : 2006 - Identical
CEI EN 62373 : 2007 - Identical
BS EN 62373 : 2006 - Identical
