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EN 62373 : 2006现行

BIAS-TEMPERATURE STABILITY TEST FOR METAL-OXIDE, SEMICONDUCTOR, FIELD-EFFECT TRANSISTORS (MOSFET)

出版：European Committee for Standards - Electrical

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基本信息

标准编号： EN 62373 : 2006

标准类别：Standard

出版单位：European Committee for Standards - Electrical

标准页数：0

标准简介

Defines a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

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