DIN EN 60749-9 : 2016现行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 9: PERMANENCE OF MARKING (IEC 60749-9:2017)
出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
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I.S. EN 60749-9:2017 - Identical
UNE EN 60749-9 : 2003 - Identical
IEC 60749-9 ED 2 : 2017 - Identical
NBN EN 60749-9 : 2003 - Identical
BS EN 60749-9 : 2017 - Identical
NF EN 60749-9 : 2002 - Identical
NF EN 60749-9 : 2002 - Identical
UNE EN 60749-9 : 2003 - Identical
I.S. EN 60749-9:2017 - Identical
BS EN 60749-9 : 2002 - Identical
NBN EN 60749-9 : 2003 - Identical
IEC 60749-9 ED 2 : 2017 - Identical
EN 60749-9 : 2017 - Identical
