NEN EN IEC 60749-3:2002被替代
Semiconductor Devices - Mechanical En Climatic Test Methods - Part 3: External Visual Inspection
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
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基本信息
标准编号： NEN EN IEC 60749-3:2002
发布时间：2002/9/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Nederlands Normalisatie Instituut
标准页数：7
标准简介
Verifies that the materials, design, construction, markings, and workmanship of a semiconductor device are in accordance with the applicable procurement document.
标准备注
Partially supersedes NEN EN IEC 60749. (12/2002)
本标准替代的旧标准
替代本标准的新标准
