NEN EN IEC 60749-28:2017现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 28: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Charged Device Model (Cdm) - Device Level
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
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基本信息
标准编号： NEN EN IEC 60749-28:2017
标准类别：Standard
出版单位：Nederlands Normalisatie Instituut
标准页数：44
标准简介
2017 [01/07/2017]
等同采用的国际标准
EN 60749-28:2017 - Identical
EN 60749-28 : 2017 - Identical
IEC 60749-28 : 1ED 2017 - Identical
IEC 60749-28 : 1ED 2017 - Identical
EN 60749-28 : 2017 - Identical
