EN 60749-28:2017现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 28: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Charged Device Model (Cdm) - Device Level (Iec 60749-28:2017)
出版：European Committee for Standards - Electrical
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基本信息
标准编号： EN 60749-28:2017
标准类别：Standard
出版单位：European Committee for Standards - Electrical
标准页数：54
标准简介
2017 [01/06/2017]
等同采用的国际标准
I.S. EN 60749-28:2017 - Identical
DS EN 60749-28:2017 - Identical
NEN EN IEC 60749-28:2017 - Identical
DIN EN 60749-28:2018 - Identical
